Indiziert in
  • Öffnen Sie das J-Tor
  • Genamics JournalSeek
  • Akademische Schlüssel
  • JournalTOCs
  • Forschungsbibel
  • Nationale Wissensinfrastruktur Chinas (CNKI)
  • Scimago
  • Ulrichs Zeitschriftenverzeichnis
  • Elektronische Zeitschriftenbibliothek
  • RefSeek
  • Hamdard-Universität
  • EBSCO AZ
  • OCLC – WorldCat
  • SWB Online-Katalog
  • Virtuelle Bibliothek für Biologie (vifabio)
  • Publons
  • MIAR
  • Wissenschaftliche Indexierungsdienste (SIS)
  • Euro-Pub
  • Google Scholar
Teile diese Seite
Zeitschriftenflyer
Flyer image

Abstrakt

Theoretical modeling and experimental validation of Electrical conductivity for highly aligned single-walled carbon nanotube thin films

Maher S. Amer*, Mark J. Foster, Ali M. Al Mafrage and Mohammed K. Mohammed

A new model capable of accurately predicting the electrical conductivity of highly aligned single-walled carbon nanotube thin films has been developed. The films ranged between 1 and 11 layers thick. The well-established Lamination theory failed to predict the experimentally measured values for the films of different thicknesses. However, this model, based on modified and expanded techniques applied within the realm of the lamination theory, could predict the exact values taking into consideration the inter-layer interaction that is crucial for the properties and performance of nano- films.

Haftungsausschluss: Dieser Abstract wurde mit Hilfe von Künstlicher Intelligenz übersetzt und wurde noch nicht überprüft oder verifiziert.