Zahnheilkunde

Abstrakt

Rasterelektronenmikroskop-Analyse von CAD/CAM-Implantat-Abutments aus Titan im Vergleich zu goldgegossenen UCLA-Abutments

Ali-Reza Ketabi*, Sandra Ketabi, B. Helmstädter, Hans-Christoph Lauer und Martin Brenner

Zweck: Ziel der Studie war es, einteilige CAD/CAM-Abutments aus Titan und goldgegossene Abutments vom Typ UCLA mittels Rasterelektronenmikroskop auf Verunreinigungen, Bearbeitungsspuren und Mikrospalte zu untersuchen.
Material und Methoden: Drei Gruppen mit jeweils fünf identischen Abutments wurden nach Reinigung mit Dampfstrahler und Ethanol mit einem Rasterelektronenmikroskop (LEO 1530 VP; Oberkochen, Deutschland) untersucht. Gruppe 1 umfasste individuelle CAD/CAM-Abutments (Atlantis™; Dentsply Implants, Mölndal, Schweden). Gruppe 2 umfasste gegossene Basen vom Typ UCLA vor dem Guss (Astra Tech Cast Design 4.5; Dentsply Implants). Gruppe 3 umfasste die identischen Gussbasen mit einem angussfähigen Abutment (Goldlegierung).
Ergebnisse: Verunreinigungen wurden auf allen Abutments der Gruppe 1, auf 3 von 5 Proben der Gruppe 2 und auf 1 von 5 Proben der Gruppe 3 gefunden. Auf den Proben der Gruppen 2 und 3 waren Bearbeitungsspuren sichtbar. In den Gruppen 1 und 2 waren keine Mikrospalte vorhanden. Bei allen angegossenen Abutments der Gruppe 3 wurden große ungefüllte Schrumpfungshohlräume mit einer horizontalen Ausdehnung zwischen <10 und 221 µm und einer vertikalen Ausdehnung zwischen <10 und 30 µm gefunden.
Schlussfolgerungen: Sowohl die Verunreinigungen als auch die Mikrospalte der gegossenen zweiteiligen Abutments könnten sich nachteilig auf die periimplantären Hart- und Weichgewebe auswirken. Diesbezüglich sind weitere Studien erforderlich.